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探針臺(tái)探針是電測(cè)試的接觸媒介，為電子五金元器件。探針臺(tái)可以將電探針、光學(xué)探針或射頻探針放置在硅晶片上，從而可以與測(cè)試儀器、半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)配合來測(cè)試芯、半導(dǎo)體器件。這些測(cè)試可以很簡(jiǎn)單，例如連續(xù)性或隔離檢查。也可以很復(fù)雜，包括微電路的完整功能測(cè)試?？梢栽趯⒕A鋸成單個(gè)管芯之前或之后進(jìn)行測(cè)試。在晶圓級(jí)別的測(cè)試允許制造商在生產(chǎn)過程中多次測(cè)試芯片器件，這可以提供有關(guān)哪些工藝步驟將缺陷引入產(chǎn)品的信息。它還使制造商能夠在封裝之前測(cè)試管芯，這在封裝成本相對(duì)于器件成本高的應(yīng)用中很重要。探針臺(tái)還...
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ESD測(cè)試即靜電放電測(cè)試。ESD測(cè)試在芯片和系統(tǒng)設(shè)計(jì)中是一項(xiàng)很重要的指標(biāo)，通常暴露在外面的接口更要注意靜電防護(hù)。靜電放電(ESD)是一種自然現(xiàn)象，經(jīng)驗(yàn)表明，人在合成纖維的地毯上行走時(shí)，通過鞋子與地毯的摩擦，只要行走幾步，人體上積累的電荷就可以達(dá)到10-6庫(kù)侖以上(這取決于鞋子與地毯之間的電阻)，在這樣一個(gè)"系統(tǒng)"里(人/地毯/大地)的平均電容約為幾十至上百pF，可能產(chǎn)生的電壓要達(dá)到15kV。研究不同的人體產(chǎn)生的靜電放電，會(huì)有許多不同的電流脈沖，電流波形的上升時(shí)間在100ps至...
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晶圓探針臺(tái)是在半導(dǎo)體開發(fā)和制造過程中用于檢測(cè)晶圓電氣特性的設(shè)備。電氣測(cè)試包括通過探針或探針卡將測(cè)試信號(hào)從測(cè)定器或測(cè)試儀發(fā)送到晶圓上的各個(gè)器件，并得到各器件的信號(hào)反饋。這個(gè)時(shí)候，用于晶圓搬送并與事先設(shè)定的位置進(jìn)行接觸的設(shè)備稱為晶圓探針臺(tái)。它能夠滿足12英寸、8英寸晶圓的測(cè)試需求，通過高精度定位平臺(tái)、高剛性晶圓承載臺(tái)和高分辨率仰視相機(jī)(探針相機(jī))及俯視相機(jī)(晶圓相機(jī))，實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)上下晶圓料片、對(duì)針和高精度扎針，與測(cè)試機(jī)配合完成對(duì)晶圓上集成電路的品質(zhì)檢測(cè)。圓測(cè)試是在半導(dǎo)體器件制造過...
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探針臺(tái)是一種成熟的工具，用于測(cè)試硅晶片、裸片和開放式微芯片上的電路和設(shè)備。它允許用戶將電子、光學(xué)或射頻探針放置在設(shè)備上，然后測(cè)試該設(shè)備對(duì)外部刺激(電子、光學(xué)或射頻)的響應(yīng)。這些測(cè)試可以很簡(jiǎn)單，例如連續(xù)性或隔離檢查，也可以更復(fù)雜，涉及復(fù)雜微電路的全功能測(cè)試。它的應(yīng)用行業(yè)有許多，常見的包括半導(dǎo)體、光電以及集成電路等行業(yè)，半導(dǎo)體企業(yè)不僅有效促進(jìn)了經(jīng)濟(jì)發(fā)展。主要用于半導(dǎo)體材料、微納米器件、磁性材料、自旋電子器件及相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的電、磁學(xué)特性測(cè)試，能夠提供磁場(chǎng)或變溫環(huán)境，并進(jìn)行高精度的直...
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一、探針臺(tái)從操作上來區(qū)分有：手動(dòng)，半自動(dòng)，全自動(dòng)二、從功能上來區(qū)分有：溫控探針臺(tái)，真空探針臺(tái)(超低溫探針臺(tái))，RF探針臺(tái)，LCD平板探針臺(tái)，霍爾效應(yīng)探針臺(tái)，表面電阻率探針臺(tái)三、經(jīng)濟(jì)手動(dòng)型：(1)根據(jù)客戶需求定制(2)chuck尺寸：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可選)(3)X-Y移動(dòng)行程：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可選)(4)chuckZ軸方向升降10mm(選項(xiàng))方便探針與樣品快速分離(5)顯微鏡：金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡(可選)...
11-23
芯片分選機(jī)基于最新高新科技設(shè)計(jì)，可以提供高產(chǎn)出、高精準(zhǔn)度的一站式IC測(cè)試解決方案，它適合Tray入料，卷帶（Reel）出料的進(jìn)出料形式，可針對(duì)各種封裝形式的IC進(jìn)行外觀檢測(cè)。該設(shè)備已經(jīng)取得了很大的技術(shù)進(jìn)步，未來將在設(shè)備的每小時(shí)產(chǎn)能、適用的芯片封裝種類、換測(cè)時(shí)間以及系統(tǒng)的穩(wěn)定性等方面取得重要的成果。如今隨著經(jīng)濟(jì)的不斷發(fā)展，用工成本越來越高，尤其在產(chǎn)品分級(jí)方面，高昂的人工費(fèi)用讓很多工廠企業(yè)越來越吃不消。自動(dòng)化分級(jí)必將成為未來的大趨勢(shì)。反觀目前的重量分選機(jī)市場(chǎng)，魚龍混雜，不少有分級(jí)...
11-17
高低溫探針臺(tái)主要用于材料電學(xué)表征和測(cè)量的微型桌面型電學(xué)測(cè)量臺(tái)，是專為晶片、器件和材料（薄膜、納米、石墨烯、電子材料、超導(dǎo)材料、鐵電材料等）提供真空和高低溫測(cè)試條件下進(jìn)行非破壞性的電學(xué)表征和測(cè)量平臺(tái)。主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學(xué)性能表征和測(cè)量，還可以在真空、氣氛環(huán)境下對(duì)材料進(jìn)行電學(xué)測(cè)量評(píng)估，是實(shí)驗(yàn)室測(cè)量薄膜材料電學(xué)材料常備工具，廣泛用于高校、科研、航天航空、軍工院所等領(lǐng)域。性能優(yōu)勢(shì)：1、滿足各種溫度的需求：可以滿足非常高的溫度或非常低的溫度的需求，因?yàn)榫A...
11-10
emmi微光顯微鏡是利用高增益相機(jī)/探測(cè)器來檢測(cè)由某些半導(dǎo)體器件缺陷/失效發(fā)出的微量光子的一種設(shè)備。當(dāng)對(duì)樣品施加適當(dāng)電壓時(shí)，其失效點(diǎn)會(huì)因加速載流子散射或電子-空穴對(duì)的復(fù)合而釋放特定波長(zhǎng)的光子。這些光子經(jīng)過收集和圖像處理后，就可以得到一張信號(hào)圖。撤去對(duì)樣品施加的電壓后，再收集一張背景圖，把信號(hào)圖和背景圖疊加之后，就可以定位發(fā)光點(diǎn)的位置，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)失效點(diǎn)的定位。對(duì)于故障分析而言，微光顯微鏡是一種相當(dāng)有用且效率高的分析工具。主要偵測(cè)IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中，EHPRecom...