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頭條防止靜電傷害:晶圓ESD測(cè)試機(jī)操作中的安全措施2025-3-7
在半導(dǎo)體制造過(guò)程中,靜電放電(ESD)是一種潛在的風(fēng)險(xiǎn),可能對(duì)晶圓、設(shè)備和人員安全造成嚴(yán)重影響。晶圓ESD測(cè)試機(jī)作為測(cè)試和驗(yàn)證半導(dǎo)體器件的工具,必須采取有效的安全措施,以...2026
1-302025
12-312025
11-28探針臺(tái)的工作原理:微納尺度精準(zhǔn)連接與檢測(cè)的核心邏輯
探針臺(tái)的核心工作原理是“精準(zhǔn)定位+穩(wěn)定接觸+信號(hào)傳輸”,通過(guò)機(jī)械結(jié)構(gòu)驅(qū)動(dòng)探針與微納器件(芯片、半導(dǎo)體、傳感器等)的特...2025
11-18手動(dòng)探針臺(tái)的核心優(yōu)點(diǎn)解析
手動(dòng)探針臺(tái)是半導(dǎo)體、電子器件研發(fā)及材料科學(xué)領(lǐng)域中常用的測(cè)試設(shè)備,其核心功能是通過(guò)精密機(jī)械控制實(shí)現(xiàn)對(duì)微小器件的電性能測(cè)...2025
10-10探針臺(tái)故障速查:定位失準(zhǔn)、接觸不良與成像模糊的30分鐘解決指南
一、定位失準(zhǔn):快速排查與修復(fù)現(xiàn)象:探針無(wú)法準(zhǔn)確接觸晶圓或芯片的測(cè)試點(diǎn),導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)異常。1.機(jī)械結(jié)構(gòu)檢查(5分鐘)X...
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